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低溫試驗箱入門(mén)簡(jiǎn)介

作者:錦華試驗 | 發(fā)布時(shí)間:2021-04-07

低溫試驗箱考核和確定電工、電子技術(shù)產(chǎn)品或材料在經(jīng)受溫度進(jìn)行突變不致產(chǎn)生一定損傷重要作用的非散熱電工、電子信息產(chǎn)品通過(guò)低溫下貯存和使用的適應性。汽車(chē)環(huán)境模擬試驗室該環(huán)境控制艙是國內唯一能夠實(shí)現汽車(chē)冷啟動(dòng)試驗、汽車(chē)高低溫試驗、霜霧模擬試驗、車(chē)內有害氣體模擬試驗、整車(chē)排放試驗等可靠的實(shí)驗環(huán)境。氙燈老化試驗箱采用能模擬全陽(yáng)光光譜的氙燈燈來(lái)再現不同環(huán)境下存在的破壞性光波,可以為科研、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗。恒溫恒濕試驗箱試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干燥、耐濕性能。適合電子、電器、食品、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材等行業(yè)品管之用。該系列產(chǎn)品適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各項性能指標。低溫試驗箱可以設計采用強迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作溫度分布均勻。為了發(fā)展限制輻射能力影響,試驗箱內壁各部分溫度與規定試驗研究溫度之差不應超過(guò)8%(按開(kāi)爾文溫度提高計算),且試驗分析樣品不應受到一些不符合上述問(wèn)題要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。

低溫試驗室采用數控機床加工,采用無(wú)反應手柄,操作方便。

低溫試驗案例標準:GB/T 2421-1999 電氣和電子環(huán)境測試部分 1:一般規則(idtI EC 60068-1:1:1988):GB/T 2422-19 95 電氣電子環(huán)境測試術(shù)語(yǔ)(eqvI EC 60068-5-2:1990):GB/T 2424.1-1989 年電氣電子產(chǎn)品基本環(huán)境測試程序高溫和低溫測試指南

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